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薄膜测厚仪是一款专业用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等材料厚度测量的精密检测设备。该仪器采用机械接触式测量原理,通过测量头在恒定压力下垂直下压于试样表面,由位移传感器实时检测上下测量面间距,将位移数据转换为厚度值。产品广泛应用于薄膜生产企业、质检机构及研究院校等领域。

支持单点及多点厚度测量,实时显示最大值、最小值、平均值及标准偏差等统计数据
三、规格参数
项目 | 参数 |
测量范围 | 0-5mm(可根据需要定做合适夹具) |
测量压力 | 17.5±1kPa(薄膜);100±1kPa(纸张) |
测量精度 | ±0.5um |
分辨率 | 0.1um |
接触面积 | 50mm²(薄膜),200mm²(纸张) 注:纸张需定制 |
设备尺寸 | 465mm x 400mm x 560mm |
设备重量 | 30kg |
精度可靠:采用超高精度位移传感器,严格符合ISO 4593、GB/T 6672等国际及国家标准要求
操作便捷:测量头自动升降,触摸屏实时显示数据,自动统计与分析
适用广泛:可测量塑料薄膜、金属箔片、纸张、隔膜、硅片等多种材料
数据可追溯:支持数据存储、查询、打印及GMP权限管理,满足品控体系要求
电源安全:设备须连接良好接地线,电压波动不得超过±20V,避免与大型功率设备同线路使用
环境要求:建议在温度23℃±2℃、相对湿度50%±5%RH、无震动及电磁干扰的环境下使用
操作规范:测试前须确保设备水平放置;严禁擅自拆卸测量头,以免影响精度
设备维护:保持测量平台与传感器接触面清洁,建议定期使用酒精清洁;非试验时间覆盖防尘布
禁止行为:测量头固定组件拆除前禁止通电;严禁带电检修
济南锦华仪器深耕包装材料检测领域,一直致力于为客户提供高性价比的整体解决方案,公司提供从设备选型到方案优化的全流程支持,满足行业内不同客户的品控需求,期待与各行业内的企事业单位真诚合作。
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