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CHY-01薄膜测厚仪产品说明书

来源:锦华仪器发布时间:2026-08-10

CHY-01薄膜测厚仪产品说明书

本信息由济南锦华仪器设备有限公司提供发布

一、产品概述

薄膜测厚仪是一款专业用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等材料厚度测量的精密检测设备。该仪器采用机械接触式测量原理,通过测量头在恒定压力下垂直下压于试样表面,由位移传感器实时检测上下测量面间距,将位移数据转换为厚度值。产品广泛应用于薄膜生产企业、质检机构及研究院校等领域

测厚仪CHY-01锦华仪器 (2)

二、功能说明

支持单点及多点厚度测量,实时显示最大值、最小值、平均值及标准偏差等统计数据

配备7寸触摸屏,支持一键化操作与数据自动清零,减少人为误差

内置历史数据存储、查询及微型打印机,支持测试结果快捷输出

具备GMP三级权限管理功能,适用于医药行业使用要求

部分型号支持薄膜与纸张双模式测量压力切换,适配不同材质特性

三、规格参数

项目

参数

测量范

0-5mm(可根据需要定做合适夹具)

测量压

17.5±1kPa(薄膜);100±1kPa(纸张)

测量精

±0.5um

分辨

0.1um

接触面

50mm²(薄膜),200mm²(纸张)  注:纸张需定制

设备尺寸

465mm x 400mm x 560mm

设备重量

30kg

四、特性与优势

精度可靠:采用超高精度位移传感器,严格符合ISO 4593、GB/T 6672等国际及国家标准要求

操作便捷:测量头自动升降,触摸屏实时显示数据,自动统计与分析

适用广泛:可测量塑料薄膜、金属箔片、纸张、隔膜、硅片等多种材料

数据可追溯:支持数据存储、查询、打印及GMP权限管理,满足品控体系要求

五、安全与注意事项

电源安全:设备须连接良好接地线,电压波动不得超过±20V,避免与大型功率设备同线路使用

环境要求:建议在温度23℃±2℃、相对湿度50%±5%RH、无震动及电磁干扰的环境下使用

操作规范:测试前须确保设备水平放置;严禁擅自拆卸测量头,以免影响精度

设备维护:保持测量平台与传感器接触面清洁,建议定期使用酒精清洁;非试验时间覆盖防尘布

禁止行为:测量头固定组件拆除前禁止通电;严禁带电检修

CHY-01测厚仪

济南锦华仪器深耕包装材料检测领域,一直致力于为客户提供高性价比的整体解决方案,公司提供从设备选型到方案优化的全流程支持,满足行业内不同客户的品控需求,期待与各行业内的企事业单位真诚合作。

 

 

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